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產(chǎn)品分類

產(chǎn)品詳情

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產(chǎn)品名稱：3535日本日置HIOKI3535LCR測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào)：3535日本日置HIOKI3535
產(chǎn)品廠商：日本日置
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簡(jiǎn)單介紹：

3535日本日置HIOKI3535LCR測(cè)試儀3535日本日置HIOKI3535LCR測(cè)試儀 3535LCR測(cè)試儀100kHz～120MHz的寬頻帶

詳情介紹：

3535日本日置HIOKI3535LCR測(cè)試儀3535日本日置HIOKI3535LCR測(cè)試儀
高速LCR儀，采樣率可高至120MHz

100kHz～120MHz的寬頻帶
高速LCR測(cè)試（6ms/采樣）
拆卸式前置放大器可選擇
為比較標(biāo)準(zhǔn)元件提供補(bǔ)償?shù)?/span>“負(fù)載補(bǔ)償功能

不能單獨(dú)使用, 測(cè)量時(shí)需要選擇前置放大器單元和測(cè)試冶具或探頭。
輸入用探頭/測(cè)試夾具，實(shí)體不附帶。按照測(cè)量目的，不同型號(hào)有不同的探頭/測(cè)試夾具選件

基本參數(shù)

測(cè)量參數(shù)

|Z|，|Y|，Q，Rp，Rs(ESR)，G，X，B，θ，Ls，Lp，Cs，Cp，D(tanδ)

前置放大器
決定的測(cè)量量程

前置放大器	9700-01	9700-02	9700-03
Z和R	100mΩ～1kΩ	500Ω～10kΩ	5kΩ～100kΩ
C	1.33pF～15.9μF	0.133pF～3.18nF	0.1pF～318pF
L	1nH～1.59mH	663nH～15.9mH	6.63μH～159mH
θ	-180.00°～180.00°

測(cè)量頻率

量程	100kHz～120MHz
分辨率設(shè)置	4位（使用前控制板設(shè)置）
100.0kHz～1.000MHz	100Hz幅度
1.000MHz～10.00MHz	1kHz幅度
10.00MHz～100.0MHz	10kHz幅度
100.0MHz～120.0MHz	100kHz幅度
使用GP-IB或RS-232C接口時(shí)，分辨率為1Hz。
精度	*大 ± 0.005%，相對(duì)于設(shè)置值

測(cè)量電平

開(kāi)路接口電壓（V）和恒壓（CV）模式	5mV～1V,大20mA(10.000MHz以下) 5mV～500mV,大10mA（10.01MHz以上）
分辨率	1mV幅度
精度	±（5%+5mV）×(2+log f)(f為MHz數(shù))
恒流（CC）模式	200μA～20mA,大1V（10.00MHz以下） 200μA～10mA,大0.5V（10.01MHz以上）
分辨率	10A幅度
精度	±（10%+50μA）× (2+log f)(f為MHz數(shù))

基本精度

Z：± 0.5%rdg. θ：± 0.3°

輸出阻抗

50Ω ± 10Ω（100kHz時(shí)）

監(jiān)視

電壓 0.000V～1.000V
電流 0.000mA～20.0mA

限制

電壓（設(shè)置為CC） 0.005V～1.000V
電流(設(shè)置為V或CV) 0.20mA～20.00mA

平均

關(guān)，2，4，8，16，32，64

觸發(fā)

內(nèi)置觸發(fā)器，外置觸發(fā)器
觸發(fā)延時(shí) 0.01s～9.99s；0.01s分辨率

比較

可得到兩組測(cè)量參數(shù)：百分比，△%，或**值設(shè)置（△%即顯示測(cè)量值與標(biāo)準(zhǔn)值的偏差）

控制盤存儲(chǔ)和調(diào)用

*多30組

屏幕顯示

測(cè)量值和比較器的判斷結(jié)果

顯示線數(shù)

可設(shè)置成3，4，或5；根據(jù)參數(shù)可能有所不同

打印

拷貝測(cè)量值或屏幕顯示的要點(diǎn)（需用9442，9593-01和9446）

接口

GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有標(biāo)準(zhǔn))

操作環(huán)境

10～40°C，*大80%rh，無(wú)凝結(jié)

倉(cāng)儲(chǔ)環(huán)境

-10～55°C，*大80%rh，無(wú)凝結(jié)

供電電源

交流100V～240V，50/60Hz，約50VA

體積及重量

約360寬×130高×360厚（mm）；8.3kg

3535日本日置HIOKI3535LCR測(cè)試儀
3535日本日置HIOKI3535LCR測(cè)試儀

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產(chǎn)品名稱：3535日本日置HIOKI3535LCR測(cè)試儀