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涂層測厚儀在測量物體時(shí)
日期：2025-05-10 12:17
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摘要：
涂層測厚儀在測量物體時(shí),除測量方法外,還會有其他因數(shù)會導(dǎo)致測量結(jié)果有所偏差,具體影響因數(shù)請看下表.
涂層測儀除了可以測量磁性金屬基體和非磁性基體上的涂層,亦可以測量金屬電鍍的鍍層測厚儀,因此,涂層測厚儀,通常也稱為涂鍍層測厚儀.
| 測量方式法 | 磁性測量 | 渦流測量 |
| 基體金屬磁性質(zhì) | * | |
| 基體金屬電性質(zhì) | * | |
| 邊緣效應(yīng) | * | * |
| 曲率 | * | * |
| 試件粗糙度 | * | * |
| 磁場 | * | |
| 附著物質(zhì) | * | * |
| 測頭壓力 | * | * |
| 測頭取向 | * | * |
| 基體金屬厚度 | * | * |
| 試件的形狀 | * | * |
